相关度量对缺陷模型的影响
软件工程
2018-02-01 v1
摘要
缺陷模型是用于构建与软件质量相关的经验性理论的分析模型。先前的研究常使用诸如ANOVA Type-I等解释技术从此类模型中推导知识。近期工作提出关切:先前研究在构建此类模型时很少移除相关度量。此类相关度量可能影响模型的解释。然而,相关度量在此类模型中的影响尚未被研究。在本文中,我们着手研究相关度量的影响,以及移除相关度量对缺陷模型的收益与代价。通过对15个公开可用缺陷数据集的案例研究,我们发现(1)相关度量影响了所有9种所研究模型解释技术中排名最高度量的排序。另一方面,移除相关度量(2)无论模型如何设定,均改善了排名最高度量的一致性(除ANOVA Type-I外所有所研究解释技术);且(3)对缺陷模型的性能与稳定性影响可忽略。因此,研究者必须(1)在构建缺陷模型前缓解(例如移除)相关度量;且(2)即使所有相关度量均被移除,也应避免使用ANOVA Type-I。
引用
@article{arxiv.1801.10271,
title = {The Impact of Correlated Metrics on Defect Models},
author = {Jirayus Jiarpakdee and Chakkrit Tantithamthavorn and Ahmed E. Hassan},
journal= {arXiv preprint arXiv:1801.10271},
year = {2018}
}
备注
16 pages, under review at a software engineering journal