导线自仿射分形粗糙度对原子芯片的影响
量子物理
2015-06-26 v1
摘要
原子芯片利用光刻图案化导线中的电流为原子产生微观磁阱。被俘获冷原子云的密度分布揭示了囚禁势中的无序,这源于导线中蜿蜒的电流流动。导线边缘的粗糙度通常是此行为的主要原因。在此,我们指出微加工导线边缘通常呈现自仿射粗糙度。我们研究了这一点对原子阱中无序的后果。特别地,我们考虑当存在最大允许无序强度时,阱可多接近导线。我们就粗糙度在未来原子-表面相互作用实验中的作用作出评论。
引用
@article{arxiv.quant-ph/0703123,
title = {The effect of self-affine fractal roughness of wires on atom chips},
author = {Z. Moktadir and B. Darquié and M. Kraft and E. A. Hinds},
journal= {arXiv preprint arXiv:quant-ph/0703123},
year = {2015}
}
备注
7 pages, 7 figures