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现实世界中的原子芯片:导线波纹的影响

原子物理 2016-08-16 v4

摘要

我们提出了一个详细的模型,描述导线波纹对载流微导线上方原子云所经历的陷阱势的影响。我们计算了由波纹引起的电流分布畸变,然后推导了导线上方磁场中相应的粗糙度。推导了粗糙度作为带状导线上方高度函数的标度定律。我们还提供了使用冷原子的微导线陷阱的实验数据,这些数据补充了先前发表的一些测量结果,并证明导线波纹可以令人满意地解释我们在电镀金导线上方观察到的原子云碎裂现象。最后,我们介绍了通过电子束光刻和金蒸发制备的新型导线的波纹测量结果。这些导线似乎比电镀导线光滑得多。

关键词

引用

@article{arxiv.physics/0407094,
  title  = {Atom chips in the real world: the effects of wire corrugation},
  author = {Thorsten Schumm and Jèrôme Estève and Christine Aussibal and Cristina Figl and Jean-Baptiste Trebbia and Hai Nguyen and Dominique Mailly and Isabelle Bouchoule and Christopher Westbrook and Alain Aspect},
  journal= {arXiv preprint arXiv:physics/0407094},
  year   = {2016}
}