数据质量与模型参数对基于 Rietveld 法的 X 射线衍射数据定量相分析的影响
材料科学
2021-06-15 v4
摘要
利用从 QPA 循环比对 [Madsen et al. J. Appl. Cryst. (2001), 34, 409-26] 的两个样品收集的数据，考察了 X 射线粉末衍射数据的质量以及可精修参数的数量和类型对基于 Rietveld 法的定量相分析（QPA）的影响。基于对这些理想情形样品的分析，提出了一系列关于数据采集和分析最低标准的建议。希望这些建议能帮助新的 QPA-by-Rietveld 用户进行分析。
关键词
引用
@article{arxiv.2008.11046,
title = {The effect of data quality and model parameters on the quantitative phase analysis of X-ray diffraction data by the Rietveld method},
author = {Matthew R. Rowles},
journal= {arXiv preprint arXiv:2008.11046},
year = {2021}
}
备注
46 pages, 22 figures. Replaced after responding to reviewer and editor comments. For summary data, see https://cloudstor.aarnet.edu.au/plus/s/j4V2SNKFJTX5uBH . For the raw data, see https://doi.org/10.25917/nvsw-0044 (no zero error) and https://doi.org/10.25917/5f44ad65411cc (with zero error)