关于二维 X 射线探测器粉末衍射和小角散射数据统计不确定度的估计
材料科学
2014-09-12 v4
摘要
本文探讨了从二维 (2D) 平面探测器获取具有良好标准差估计的一维 (1D) 粉末图谱强度的最佳方法。我们描述了当同一图像在多个帧中测量以及从单帧测量时估计不确定度的方法。我们展示了在数据分析和重采样过程中考虑衍射点相关性的重要性。我们发现，如果在积分过程中忽略图像中相邻像素之间的相关性，会导致不确定度被严重高估。方差 - 协方差 (VC) 矩阵中的非对角项是有问题的，因为几乎所有数据处理和建模程序都无法处理完整的 VC 矩阵。我们表明，非对角项主要源于许多流行 2D 积分程序中用作默认积分算法的像素分割算法，以及后续处理中的重分箱和重采样步骤。当可以在数据归约过程中传播完整的 VC 矩阵时，有可能以获得精确的修正参数及其不确定度，但代价是增加计算复杂度。然而，由于这通常不可行，我们探讨了数据处理的最佳近似方法，以便仅利用 VC 矩阵中的对角方差项，以最高精度估计修正参数的不确定度。
引用
@article{arxiv.1309.3614,
title = {On the estimation of statistical uncertainties on powder diffraction and small angle scattering data from 2-D x-ray detectors},
author = {Xiaohao Yang and Pavol Juhas and Simon J. L. Billinge},
journal= {arXiv preprint arXiv:1309.3614},
year = {2014}
}
备注
11 pages, 5 figures, 1 table