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Si2H6 化合物高压超导态的表征:强耦合描述

超导电性 2015-06-11 v1

摘要

计算了在 275 GPa 压力下 Si2H6{\rm Si_{2}H_{6}} 中诱发的超导态的热力学参数。在 Eliashberg 形式体系框架下,研究表明临界温度可达到极高值:TC(μ)<173.36,99.99>T_{C}(\mu^{\star})\in<173.36, 99.99> K,其中库仑赝势 (μ)(\mu^{\star}) 的范围为 0.1 至 0.3。能隙与临界温度之比 (RΔR_{\Delta}) 显著超过 BCS 理论预测的值:RΔ(μ)<4.40,4.04>R_{\Delta}(\mu^{\star})\in<4.40, 4.04>。此外,研究指出在整个超导态存在范围内,电子有效质量 (mem^{\star}_{e}) 很大;[me]T=TCmax=2.397me[m^{\star}_{e}]^{\rm max}_{T=T_{C}}=2.397m_{e},其中符号 mem_{e} 表示电子能带质量。

关键词

引用

@article{arxiv.1210.1820,
  title  = {The characterization of high-pressure superconducting state in Si2H6 compound: the strong-coupling description},
  author = {R. Szczȩśniak and A. P. Durajski},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1210.1820},
  year   = {2015}
}

备注

7 pages, 5 figures