测试 TRACE 硅探测器对低能轻离子的识别能力
仪器与探测器
2018-03-28 v1
摘要
两块 Si 像素型 TRACE 探测器的束流内测试已在意大利 Legnaro 国家实验室完成。其目的是研究在低动能（即约 10 MeV）下识别质量 A~10 的重离子反应产物的可能性。使用了两条独立的读出链：数字和模拟。采用脉冲形状分析技术对数字处理部分的数据获取了识别矩阵。获得了在电荷和质量上的分离，然而， 粒子显著污染了低能部分的记录数据。由于这种效应，轻产物（Li 同位素）的识别仅能低至约 20 MeV。
引用
@article{arxiv.1803.09575,
title = {Testing the capability of low-energy light ions identification of the TRACE silicon detectors},
author = {N. Cieplicka-Oryńczak and D. Mengoni and M. Ciemała and S. Leoni and B. Fornal and J. A. Dueñas and S. Brambilla and C. Boiano and P. R. John and D. Bazzacco and G. Benzoni and G. Bocchi and S. Capra and F. C. L. Crespi and A. Goasduff and K. Hadyńska-Klęk and Ł. W. Iskra and G. Jaworski and F. Recchia and M. Siciliano and D. Testov and J. J. Valiente-Dobón},
journal= {arXiv preprint arXiv:1803.09575},
year = {2018}
}
备注
6 pages, 4 figures