电子系统中 Jarzynski 和 Crooks 涨落关系的检验
介观与纳米尺度物理
2012-11-02 v3
摘要
微观和纳米尺度操控的最新进展使得探测足够小的系统成为可能，在这些系统中，能量和坐标变量的热涨落与其平均行为相比可能十分显著。我们提出了一项关于经典两态系统（即金属单电子盒）中非平衡热力学的实验研究。我们以高统计精度测量了单电子在盒电极之间转移时的耗散能量分布。所获得的分布服从 Jarzynski 和 Crooks 涨落关系。该系统存在完善的微观理论，使得无需拟合参数即可重现实验分布。
引用
@article{arxiv.1206.7049,
title = {Test of Jarzynski and Crooks fluctuation relations in an electronic system},
author = {O. -P. Saira and Y. Yoon and T. Tanttu and M. Möttönen and D. V. Averin and J. P. Pekola},
journal= {arXiv preprint arXiv:1206.7049},
year = {2012}
}
备注
9 pages, 4 figures; (v2) manuscript reformatted, minor semantic improvements; (v3) updated to the version accepted for publication