纳米机电谐振器的温度测量与声子数统计

测量热力学量可能容易也可能困难，这取决于所研究的系统。对于宏观物体，测量温度可以简单到测量与之接触时水银柱的上升高度。在量子机电系统的小尺度上，这种简单方法不可用，并且检测过程总是会扰动系统状态。在此，我们提出了一种测量两端夹持的悬浮半导体薄膜温度的方法。在该方法中，薄膜介导两个传输线谐振器（TLR）之间的电容耦合。第一个 TLR 具有强色散，即其衰减率大于其驱动强度，其作用是以脉冲方式泵浦薄膜与第二个 TLR 之间的相互作用。通过对第二个 TLR 正交分量的脉冲测量进行平均，我们展示了如何确定薄膜的温度。此外，通过在该方法中直接获取的薄膜状态的统计描述，因耦合到第二个 TLR 的 Josephson 结的加入而得到显著改善。