含应变晶体的透射电镜成像中的对称性
材料科学
2022-06-06 v1
摘要
应变晶体的TEM图像常呈现对称性，其来源并非总清晰。为理解这些对称性，我们区分了由成像过程本身产生的对称性与可能影响图像的夹杂物对称性。对于成像过程，我们从数学上证明了强度在特定变换下不变。这些不变性与应变分布特定性质相结合，可解释TEM图像中观测到的对称性。我们以半导体纳米结构领域中选出的实例（如量子阱与量子点）演示了研究TEM图像对称性的该方法。
引用
@article{arxiv.2206.01689,
title = {Symmetries in TEM imaging of crystals with strain},
author = {Thomas Koprucki and Anieza Maltsi and Alexander Mielke},
journal= {arXiv preprint arXiv:2206.01689},
year = {2022}
}