通过 X 射线 Hong-Ou-Mandel 效应实现亚阿秒计量学
量子物理
2019-08-06 v1
摘要
我们展示了利用 X 射线进行 Hong-Ou-Mandel 干涉测量，可以测量亚阿秒延迟和亚埃光学路径差。我们提议使用一个系统，该系统包含一个基于自发参量下转换的宽带 X 射线光子对源和一个基于多层膜的干涉仪。光子对的关联时间和 Hong-Ou-Mandel 凹陷短于 1 阿秒，因此测量精度预计优于 0.1 阿秒。我们预期，本文描述的方案将推动在 X 射线波长下开发各种具有超高精度的量子测量技术。
引用
@article{arxiv.1908.01592,
title = {Sub-Attosecond Metrology via X-Ray Hong-Ou-Mandel Effect},
author = {S. Volkovich and S. Shwartz},
journal= {arXiv preprint arXiv:1908.01592},
year = {2019}
}