基于纠缠双色 Hong-Ou-Mandel 显微术的亚微米轴向精度深度成像

两个波长纠缠光子在分束器处重叠的量子干涉会产生振荡干涉图样。拍频的频率依赖于纠缠光子的波长间隔，但对可能限制标准干涉测量实用性的波长尺度扰动具有鲁棒性。在此，我们使用双色纠缠干涉测量术，结合二维光栅扫描，评估半透明样品的厚度变化。该显微镜的轴向精度与动态范围可通过调节纠缠光子对的波长间隔主动控制。使用高达 $12.3~nm$ 的失谐与 $\sim10^4$ 个探测到的光子对，报道了亚 $\mu m$ 精度。