识别横向模式中的双光子高维纠缠

我们提出一种通过分束器中双光子干涉来探测与横向模式相关的双光子高维纠缠的方案。我们发现双光子态角谱的拓扑对称性支配着双光子干涉的性质。我们证明反聚结干涉是双光子纠缠的特征。基于此特征，我们提出一种特殊的马赫-曾德尔干涉仪，并结合两个螺旋相位板，其仅对双光子纠缠态可将干涉从聚结型变为反聚结型。与Bell不等式检验相比，该方案简单直接。