基于双粒子干涉的纠缠测量
量子物理
2007-05-23 v3
摘要
我们提出一种简单且可实现的、使用双粒子干涉仪在假定对量子态有先验知识下实验测量两两纠缠的方法。基本思想是密度矩阵的性质可由单粒子与双粒子干涉图样揭示。该方案可轻易用偏振纠缠光子实现。
引用
@article{arxiv.quant-ph/0507029,
title = {Entanglement measurement based on two-particle interference},
author = {Jian-Ming Cai and Zheng-Wei Zhou and Guang-Can Guo},
journal= {arXiv preprint arXiv:quant-ph/0507029},
year = {2007}
}
备注
5 pages, 1 figure