基于纠缠的折射率差的量子极限测定
量子物理
2021-10-22 v1 光学
摘要
在高功率光纤中实现单模运转需要精确了解增益介质的光学性质。这要求对光纤纤芯与包层之间的折射率差（n）进行准确测量。我们利用一种基于低相干 Hong-Ou-Mandel 干涉仪的量子光学方法，使用宽带能量-时间纠缠光子对折射率差进行实用测量。该方法所达到的精度提升以基于单光子干涉的经典方法为基准进行了评估。我们表明，在经典 regime 下，与已有报道的经典方法相比精度提高了一个数量级。引人注目的是，在量子 regime 下，我们展示了精度提升的额外 4 倍因子，呈现出 的 SOTA n 精度。本工作将量子光子计量学确立为一种强大的表征工具，应能够实现用于光放大的材料的更快且可靠的设计。
引用
@article{arxiv.2110.11118,
title = {Quantum-limited determination of refractive index difference by means of entanglement},
author = {Mattis Reisner and Florent Mazeas and Romain Dauliat and Baptiste Leconte and Djeylan Aktas and Rachel Cannon and Philippe Roy and Raphael Jamier and Gregory Sauder and Florian Kaiser and Sébastien Tanzilli and Laurent Labonté},
journal= {arXiv preprint arXiv:2110.11118},
year = {2021}
}