Zn1-x Co(x)O薄膜的结构、光学、磁性和电学性质
材料科学
2009-05-01 v1
摘要
尽管为阐明ZnO基磁性半导体中铁磁性的本质付出了大量努力，但其起源仍存在争议。尽管通过磁力测量在文献中经常报道观察到室温以上的铁磁性，但迄今为止尚未有关于磁性、光学和电学测量中关联铁磁性的报道。本文系统研究了通过溅射法制备的、x从0到0.33的Zn1-x Co(x)O:Al薄膜的结构、光学、磁性和电学性质。我们表明，关联铁磁性仅存在于x > 0.25的样品中。相比之下，x < 0.2的样品仅在磁力测量中表现出弱铁磁性，而在光学和电学测量中则不存在。通过系统的电输运研究，我们证明对于x < 0.2的样品，载流子局域化确实发生在20-50 K以下；然而，在电子浓度范围为6×10^19 cm^-3至1×10^20 cm^-3的这些样品中，这并未导致铁磁相的形成。详细的结构和光学透射光谱分析表明，在x > 0.25的样品中观察到的反常霍尔效应是由于第二相和Co团簇的形成所致。
引用
@article{arxiv.0904.4807,
title = {Structural, optical, magnetic and electrical properties of Zn1-x Co (x) O thin films},
author = {M. Tay and Y. H. Wu and G. C. Han and Y. B. Chen and X. P. Pan and S. J. Wang and P. Yang and Y. P. Feng},
journal= {arXiv preprint arXiv:0904.4807},
year = {2009}
}
备注
28 pages, 8 figures