基于 Mn2RuxGa 的多层堆叠结构的稳定性
材料科学
2021-09-21 v2
摘要
我们研究了基于亚铁磁 Mn2RuxGa（MRG）层与铁磁 Co/Pt 多层的垂直异质结构，以理解在 350°C 退火后不同间隔层（V、Mo、Hf、HfOx 和 TiN）对与磁性电极界面的影响。MRG 中垂直各向异性的丧失与因晶体结构弛豫导致的衬底诱导四方性降低密切相关。在无扩散情况下，MRG 内的应变与化学有序度相关联。Hf 和 Mo 在 MRG 中的有限溶解度是额外价电子的来源，导致补偿温度 Tcomp 升高。这也稳定了垂直各向异性，补偿了应变与缺陷密度的变化。由反常霍尔效应测得的 MRG 磁滞回线矩形比降低小于 10%，使其可用于有源器件中。此外，由 Mo 间隔层促进的、在垂直 Co/Pt 自由层中具有 (2 2 0) 织构的 CoPt3 相，是唯一在退火后保留其垂直各向异性的相。
引用
@article{arxiv.2104.13319,
title = {Stability of Mn2RuxGa-based Multilayer Stacks},
author = {Gwenael Atcheson and Katarzyna Siewierska and J. M. D. Coey and Karsten Rode and Plamen Stamenov},
journal= {arXiv preprint arXiv:2104.13319},
year = {2021}
}
备注
1st revision - addition of XRD strain analysis, XRR fitting data, additional references, detail added to text