CsPbCl₃钙钛矿薄膜的频谱椭圆偏振测量
材料科学
2025-07-01 v1 应用物理
摘要
设计基于氯化铯铅(CsPbCl₃)钙钛矿的光电器件需要准确的光学常数。然而，到目前为止该材料的实验数据非常有限。因此，本文采用频谱椭圆偏振测量(SE)来测量在Si/SiO₂基底上热蒸发的不同厚度的CsPbCl₃薄膜的复光学常数。数据与扫描电子显微镜(SEM)图像和吸收光谱相互印证。建立了光学色散模型以推导复光学常数和薄膜厚度。采用Tauc-Lorentz模型结合两个谐振子来提取所需参数。消光系数光谱在411 nm处呈现陡峭的吸收边，与吸收光谱一致。此外，从吸收光谱和SE数据中计算了薄膜的光学带隙。实验值与模拟结果吻合良好，不同薄膜厚度的值均约为2.99 eV。本工作为设计和建模基于CsPbCl₃的光电器件提供了基础信息。
引用
@article{arxiv.2412.05618,
title = {Spectroscopic ellipsometry of CsPbCl${_3}$ perovskite thin films},
author = {Sana Khan and Piotr J. Cegielski and Manuel Runkel and Thomas Riedl and Maryam Mohammadi and Max C. Lemme},
journal= {arXiv preprint arXiv:2412.05618},
year = {2025}
}
备注
15 pages