透射电子显微镜中的谱学符合测量实验
仪器与探测器
2019-05-01 v1 材料科学
摘要
我们展示了在常规透射电子显微镜中进行符合测量的可行性，揭示了电子能量损失谱（EELS）与能量色散 X 射线（EDX）谱事件之间的时间关联。我们利用连接至改装 EELS 谱仪、具有皮秒时间分辨率的延迟线探测器。我们证明，与晶体中原子激发和退激发相关的两类事件之间的符合，提供了单独 EELS 或 EDX 谱中不存在的附加信息。特别地，该方法使 EELS 的背景被显著抑制甚至消除，克服了常规参数化背景拟合的诸多困难，因其不假设背景形状、无需用户干预，且不受来自背景信号的计数噪声影响。这极具吸引力，尤其在需在其他元素基质中检测低浓度元素时。
引用
@article{arxiv.1902.04991,
title = {Spectroscopic coincidence experiments in transmission electron microscopy},
author = {Daen Jannis and Knut Müller-Caspary and Armand Béché and Andreas Oelsner and Johan Verbeeck},
journal= {arXiv preprint arXiv:1902.04991},
year = {2019}
}
备注
The following article has been submitted to Applied Physics Letters