用于测量可见光和近红外范围色散的光谱分辨白光干涉仪
光学
2024-02-01 v1
摘要
我们设计了一种光谱分辨干涉仪,用于测量透明样品在400至550纳米宽光谱范围内的折射率。该测量装置由一个迈克尔逊干涉仪组成,其输出通过三个光纤光谱仪进行分析:一个自制的棱镜光谱仪,用于获取样品在400至1050纳米范围内产生的干涉图;一个自制的透射光栅光谱仪,用于测量950至1550纳米范围内的干涉图;以及一个商业的切尔尼-特纳光谱仪,用于高精度测量迈克尔逊干涉仪反射镜之间的位移。整个系统由一个发射光谱类似于黑体的白光光源照明。我们在固体和液体样品上测试了该仪器,在使用柯西公式拟合后,折射率的测量精度高达0.0001。
引用
@article{arxiv.2401.17335,
title = {Spectrally resolved white light interferometer for measuring dispersion in the visible and near infrared range},
author = {Y. Arosa and E. Lopez Lago and R. de la Fuente},
journal= {arXiv preprint arXiv:2401.17335},
year = {2024}
}
备注
18 pages, 11 figures, 3 tables