各种黑色材料反射率的表征
天体物理仪器与方法
2015-06-22 v1 仪器与探测器
摘要
我们展示了常用于光学系统中提供光阑和/或最小化杂散光影响的各种材料的总反射率和镜面反射率测量结果。更具体地说，我们研究了使用某些黑色表面的优势及其在抑制光学系统探测器杂散光中的作用。我们在紫外、可见光和近红外波段对天文仪器感兴趣的宽波长范围（250 < lambda < 2500 nm）内测量了样品的总反射率。此外，我们使用氦氖激光器测量了样品在不同角度下的镜面反射率。最后，我们比较了这两项测量结果，并推导了每个样品的镜面反射分量。
引用
@article{arxiv.1407.8265,
title = {Characterization of the Reflectivity of Various Black Materials},
author = {Jennifer L. Marshall and Patrick Williams and Jean-Philippe Rheault and Travis Prochaska and Richard D. Allen and D. L. DePoy},
journal= {arXiv preprint arXiv:1407.8265},
year = {2015}
}