LISA 仪器杂光测量
光学
2026-01-30 v1
摘要
复杂光学系统中杂光测量工作常常棘手。我们开发了一种方法，用于在装配好的器件内部测量相干杂光，确定所有杂光来源及其相对贡献。该方法基于插入扫描频率激光，并检测来自仪器的所有电气与光学信号。由这些信号计算得到的谱图显示杂光贡献与主光束之间的干涉条纹。这些干涉峰的频率指示杂光路径与主路径之间的路径差。为描述测量数据，我们实现了光学仿真，将测得的路径差关联至系统中可能的路径。随后，我们将展示在模拟 LISA 干涉仪性能的试验台上进行的测量结果，并描述高精度仿真在预测与解释测量结果方面的作用。
引用
@article{arxiv.2601.21501,
title = {Measurement of stray light in the LISA instrument},
author = {Marco Nardello and Amaël Roubeau-Tissot and Michel Lintz},
journal= {arXiv preprint arXiv:2601.21501},
year = {2026}
}