薄系统中光输运平均自由程的测量
光学
2015-05-28 v1
摘要
我们广泛研究了厚度大于但可与输运平均自由程相比拟的系统中面内光的扩散。通过利用放置在与样品相同支架中的染料分子的放大自发辐射，我们获得了精确对准样品平面的定向探测光束。通过将横向泄漏光子的空间强度分布与随机游走模拟的预测进行比较，我们提取了输运平均自由程的精确值，为研究以前无法触及的样品类型开辟了道路。
引用
@article{arxiv.1107.3937,
title = {Measurement of transport mean free path of light in thin systems},
author = {Marco Leonetti and Cefe López},
journal= {arXiv preprint arXiv:1107.3937},
year = {2015}
}