一种低成本的高精度双波长激光计量方案
天体物理仪器与方法
2015-06-15 v1
摘要
展示了一种能够以纳米精度提供相对光程长度测量的新方法。与采用外差检测的传统双波长计量不同，本工作开发的方法利用两个He-Ne激光器的干涉条纹的直接检测以及精度较低的步进电机开环位置控制系统进行测量。尽管该方法可能适用于多种情况，但需要这种计量的具体应用是用于精确测量恒星位置的天体测量光学长基线恒星干涉仪。在我们将该计量应用于窄角天体测量干涉仪的示例中，无需稳频激光器即可实现纳米精度测量，尽管使用此类激光器将扩展计量能够精确测量的光程长度范围。该方法的实现需要很少的额外光学或电子器件，从而最大限度地降低了实施成本和精力。此外，计量激光器所经过的光路与星光或科学光束完全相同，甚至使用相同的光电探测器，从而最大限度地减少了计量通道和科学通道之间的非公共路径。
引用
@article{arxiv.1304.0086,
title = {A low cost scheme for high precision dual-wavelength laser metrology},
author = {Yitping Kok and Michael J. Ireland and J. Gordon Robertson and Peter G. Tuthill and Benjamin A. Warrington and William J. Tango},
journal= {arXiv preprint arXiv:1304.0086},
year = {2015}
}
备注
17 pages, 4 figures, accepted for publication in Applied Optics