无序二维材料的空间映射：电导数独

受近期纳米尺度局域电导测量技术进展的推动，关于通过选择性探测输运性质能从无序石墨烯片中萃取出何种信息的问题正被及时提出。在此我们展示，一种最初为识别量子器件中散射体数目而发展的反演技术如何被适配到多端装置，以提供关于石墨烯表面及其他二维材料体系内杂质空间分布的详细信息。该方法的输入是不同电极对之间的电导读数（例如作为化学势的函数），输出为空间分辨的杂质密度。我们讨论了所获空间分辨率如何依赖于此类读数的数量以及电极几何结构。此外，通过将杂质位置分隔为网格状几何中的分区，该反演过程类似于一个数独谜题，其中器件不同扇区的组成通过强制其相加等于为网格行与列设定的特定约束值来求得。我们认为该技术可通过选择性探测局域量，为从无序材料中提取信息提供新的替代途径。