稀疏椭偏测量：利用非结构化闪光摄影便携获取偏振 SVBRDF 与形状
图形学
2023-02-09 v2 计算机视觉与模式识别
摘要
椭偏测量技术可测量材料的偏振信息，但需要光学元件在光与传感器的不同配置下精确旋转。这导致采集设备笨重、需在实验室条件下仔细校准，且采集时间极长，通常每件物体需数天。近期技术可捕获偏振空间变化反射信息，但限于单视角，或能覆盖所有视角方向却限于由单一均匀材料制成的球形物体。我们提出稀疏椭偏测量（sparse ellipsometry），一种便携的偏振采集方法，可同时捕获偏振 SVBRDF 与三维形状。我们的手持设备由现成的固定光学元件组成。总采集时间由数天缩短为每件物体二十至三十分钟。我们建立了包含漫反射与镜面反射分量以及单次散射的完整偏振 SVBRDF 模型，并设计了一种新颖的偏振逆渲染算法，通过生成式建模对镜面反射样本进行数据增强。我们的结果与近期真实世界物体偏振 BRDF 的基准数据集高度吻合。
引用
@article{arxiv.2207.04236,
title = {Sparse Ellipsometry: Portable Acquisition of Polarimetric SVBRDF and Shape with Unstructured Flash Photography},
author = {Inseung Hwang and Daniel S. Jeon and Adolfo Muñoz and Diego Gutierrez and Xin Tong and Min H. Kim},
journal= {arXiv preprint arXiv:2207.04236},
year = {2023}
}