Procyon的硅IX软X射线发射
天体物理学
2008-11-26 v1
摘要
对碳-like硅的n=3→2跃迁线进行分析发现，某些线强度比值对电子密度敏感。55.246 Å和55.346 Å之间两组3d→2p跃迁线的比值是一种良好的n_e诊断技术，由于其对电子温度不敏感。利用这一特性，本文推导出普朗森的密度下限为0.6×10^8 cm^{-3}，这与基于C V和Si X发射约束的密度一致。在普朗森光谱分析中发现3s→2p跃迁线与3d→2p跃迁线的比值在理论预测与观测值之间存在显著差异。该差异超过3倍，无法用原子数据不确定性来解释。透明效应也不成立，正如Ness等人所报告的那样。对于61.611 Å的3s→2p线，本工作指出较大的差异可能是由于61.645 Å的S VIII线的污染所致。对于61.702 Å和61.846 Å的线，我们建议差异可能归因于来自未知线的污染。
引用
@article{arxiv.astro-ph/0608144,
title = {Soft X-ray emissions of Si IX in Procyon},
author = {Guiyun Liang and Gang Zhao},
journal= {arXiv preprint arXiv:astro-ph/0608144},
year = {2008}
}
备注
18 pages, 4 figures, accepted by New Astronomy