Ar XIV 软X射线发射谱线的电子密度诊断潜力

G. Y. Liang; G. Zhao; J. L. Zeng; J. R. Shi

doi:10.1016/j.jqsrt.2006.02.029

Ar XIV 软X射线发射谱线的电子密度诊断潜力

等离子体物理 2007-05-23 v1 原子物理

作者: G. Y. Liang , G. Zhao , J. L. Zeng , J. R. Shi

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摘要

本文给出了Ar XIV软X射线发射谱线的理论电子密度敏感线比 $R_1 - R_6$ 。我们发现这些线比对电子密度 $n_e$ 敏感，而线比 $R_1$ 对电子温度 $T_e$ 不敏感。近期研究表明，精确的原子数据（如电子碰撞激发速率）对于可靠确定实验室和天体等离子体的电子密度至关重要。本工作表明，由扭曲波和R矩阵近似计算的不同原子数据引入的线比最大差异在 $n_e=10^{9-13}$ cm $^{-3}$ 范围内可达18%。通过将这些线比与电子束离子阱（EBIT-II）中的实验结果进行比较，诊断了实验室等离子体的电子密度，并从 $R_1$ 、 $R_2$ 和 $R_3$ 获得了一致的结果。我们的结果与Chen等人使用N VI三重态诊断的结果一致。从 $R_2$ 获得的相对较高的电子密度归因于其对电子温度的弱敏感性。在较低 $T_e$ 下更好的一致性表明实验室等离子体的温度低于log $T_e$ (K)=6.5。测量与理论线比的比较揭示，32.014~Å谱线被其他Ar离子的谱线轻微混合，而30.344~Å谱线则受到严重污染。

关键词

电子密度诊断 Ar XIV发射谱线软X射线光谱学线比电子束离子阱原子数据

引用

@article{arxiv.physics/0606118,
  title  = {Electron density diagnostic potential of Ar XIV soft X-ray emission lines},
  author = {G. Y. Liang and G. Zhao and J. L. Zeng and J. R. Shi},
  journal= {arXiv preprint arXiv:physics/0606118},
  year   = {2007}
}

备注

18 pages, 6 figures, published in J. Quan. Spec. Rad. Trans

Ar XIV 软X射线发射谱线的电子密度诊断潜力

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