O IV的紫外与极紫外谱线比诊断
太阳与恒星天体物理
2009-11-13 v1
摘要
目标：我们生成了O IV的理论紫外与极紫外发射谱线比，并展示了它们作为天体物理等离子体的电子温度和密度诊断工具的强大通用性。方法：利用最近O IV的辐射率和电子碰撞激发截面的完全相对论计算结果，并辅以早期的A值和质子激发速率数据，推导出了适用于广泛电子温度和密度范围的理论O IV谱线强度比。结果：本文给出了涉及O IV中紫外或极紫外跃迁的诊断谱线比，这些谱线比适用于从低密度气态星云到最密集的太阳和恒星耀斑等各种天体物理等离子体。与现有观测数据的比较显示出理论与实验之间良好的一致性，为该诊断的准确性提供了支持。然而，本文也给出了涉及现有天文光谱中混合谱线的诊断结果，希望这能促进更高光谱分辨率的进一步观测研究。
引用
@article{arxiv.0901.2222,
title = {Ultraviolet and extreme-ultraviolet line ratio diagnostics for O IV},
author = {F P Keenan and P J Crockett and K M Aggarwal and D B Jess and M Mathioudakis},
journal= {arXiv preprint arXiv:0901.2222},
year = {2009}
}
备注
5 pages; 8 figures; Astronomy and Astrophysics, in press