瞬态电离下过渡区谱线在动态事件中的诊断潜力
太阳与恒星天体物理
2015-06-04 v1
摘要
我们讨论了在考虑瞬态电离时，高时间分辨率紫外光谱数据的诊断潜力。为此，我们使用了太阳最大任务（Solar Maximum Mission）星载仪器在太阳耀斑脉冲相期间观测到的高时间分辨率紫外光谱，这些光谱与硬 X 射线脉冲显示出极好的对应关系。我们在原子数据与分析结构（Atomic Data and Analysis Structure，即基础与衍生原子数据及其处理代码的集合）中计算了过渡区离子 O V 的电离分数，特别是 O V 1371A 谱线的贡献函数。由于瞬态电离，O V 1371A 谱线在最初几分之一秒内得到增强，其谱线贡献函数的峰值最初出现在比电离平衡状态下更高的电子温度处。上升时间和增强因子主要取决于电子密度。由于瞬态电离导致的 O V 1371A 发射率分数增加可达 2-4 倍，这可以仅归因于瞬态电离来解释耀斑脉冲相期间过渡区离子谱线流量的快速响应。该技术可用于诊断即将发射的界面区成像光谱仪（Interface Region Imaging Spectrograph）所观测到的太阳耀斑的电子温度和密度。
引用
@article{arxiv.1204.6598,
title = {The Diagnostic Potential of Transition Region Lines under-going Transient Ionization in Dynamic Events},
author = {J. G. Doyle and A. Giunta and A. Singh and M. S. Madjarska and H. Summers and B. J. Kellett and M. O'Mullane},
journal= {arXiv preprint arXiv:1204.6598},
year = {2015}
}
备注
18 pages, 6 figures