模味模型中的软超对称破缺项与轻子味破坏

我们研究了模味轻子模型中由模 F 项引起的软超对称（SUSY）破缺项。发现软 SUSY 破缺项受模形式约束，并推导出了特定模式。这些现象学含义在轻子味破坏（如 $\mu \rightarrow e + \gamma$ 衰变）等方面进行了讨论。为进行数值检验，采用了两个模味 $A_4$ 模型。通过输入观测到的 $\mu \rightarrow e + \gamma$ 衰变上限，SUSY 破缺尺度受到显著约束。对于两个 $A_4$ 模型，SUSY 质量尺度分别大于约 $8$ TeV 和 $5$ TeV。因此，当前 $\mu \to e + \gamma$ 衰变的实验上限对应于模味模型中 $5$–$10$ TeV 尺度的 SUSY 粒子新物理。预测的分支比显著依赖于模 $\tau$。其在大的 ${\rm Im}\,\tau$ 处下降一个数量级。我们还计算了 tauon 衰变到 $e + \gamma$ 和 $\mu + \gamma$ 的分支比。预测值至多 ${\cal O}(10^{-15})$，远低于当前实验界限。