超对称模不变味模型中模 $\tau$ 引起的电子电偶极矩

在具有 CP 不变性的超对称 $\rm A_4$ 模不变味理论中研究了电子的电偶极矩（EDM）。轻子区的 CP 对称性通过固定模 $\tau$ 而破缺。在我们的模型中，轻子质量矩阵与观测到的轻子质量和混合角完全一致。在此框架下，固定的 $\tau$ 也导致软 SUSY 破缺项中的 CP 破坏。电子 EDM 源于 CP 不守恒的软 SUSY 破缺项。电子 EDM 的实验上限排除了轻子质量矩阵五种情形下的 $2-6$ TeV 以下的 SUSY 质量标度。为观察模 $\tau$ 的 CP 相位效应，我们考察了电子 EDM 与 $\mu \rightarrow e \gamma$ 衰变率之间的关联，后者同样由软 SUSY 破缺项预言。与传统味对称模型相反，这些关联被清晰预言。电子 EDM 的未来灵敏度 $|d_e/e| \simeq 10^{-30}$ 将约束 SUSY 质量标度。实际上，它可探测我们模型中 $10-20$ TeV 的 SUSY 质量范围。因此，电子 EDM 为超对称模不变味理论中通过模 $\tau$ 的 CP 破坏提供了严峻检验。