X 射线 SOI 像素传感器的单粒子容限
天体物理仪器与方法
2023-07-11 v1 仪器与探测器
摘要
我们评估了名为 XRPIX 的 X 射线绝缘体上硅（SOI）像素传感器的单粒子容限，该传感器是为未来的 X 射线天文卫星 FORCE 开发的。在本研究中，我们通过辐照线性能量转移（LET）范围从 0.022 MeV/(mg/cm2) 到 68 MeV/(mg/cm2) 的重离子束，测量了 XRPIX 上移位寄存器的单粒子翻转（SEU）截面。从 SEU 截面曲线中，成功获得了饱和截面和阈值 LET，分别为 和 。利用这些数值，估计在轨 SEU 率为 0.1 event/year，主要由宇宙射线质子诱发的次级粒子引起。在 FORCE 轨道上，XRPIX 移位寄存器的这一 SEU 率可以忽略不计。
引用
@article{arxiv.2210.05049,
title = {Single Event Tolerance of X-ray SOI Pixel Sensors},
author = {Kouichi Hagino and Mitsuki Hayashida and Takayoshi Kohmura and Toshiki Doi and Shun Tsunomachi and Masatoshi Kitajima and Takeshi G. Tsuru and Hiroyuki Uchida and Kazuho Kayama and Koji Mori and Ayaki Takeda and Yusuke Nishioka and Masataka Yukumoto and Kira Mieda and Syuto Yonemura and Tatsunori Ishida and Takaaki Tanaka and Yasuo Arai and Ikuo Kurachi and Hisashi Kitamura and Shoji Kawahito and Keita Yasutomi},
journal= {arXiv preprint arXiv:2210.05049},
year = {2023}
}
备注
9 pages, 5 figures, accepted for publication in JATIS