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GdRh$_2$Si$_2$ 单晶生长与表征

强关联电子 2016-12-05 v1

摘要

采用改进的 Bridgman 方法,利用高温铟熔剂生长制备了 GdRh2_2Si2_2 单晶,获得了具有板状习性的毫米级单晶。GdRh2_2Si2_2 的比热和磁化率数据在 TN=107KT_N = 107\rm \,K 处表现出明显的异常,反铁磁有序在此温度下建立。在沿四方晶格 [100][100][110][110][001][001] 方向施加 B = 0 - 9 T 外场的条件下,对单晶进行了低至 T=2T = 2 K 的磁学测量。由 Curie-Weiss 拟合确定的有效磁矩与文献值吻合良好,且大于理论预测值。沿 [001][001] 方向平行和垂直记录的电输运数据显示在 TNT_N 以下存在巨大各向异性。剩余电阻率比 RRR=ρ300K/ρ023\rm RRR=\rho_{300K}/\rho_{0}\sim 23 表明我们成功利用高温铟熔剂生长制备了高质量单晶。

关键词

引用

@article{arxiv.1612.00781,
  title  = {Single crystal growth and characterization of GdRh$_2$Si$_2$},
  author = {Kristin Kliemt and Cornelius Krellner},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1612.00781},
  year   = {2016}
}