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3D 像素在 ATLAS IBL 检测器中的传感器响应与辐射损伤效应

仪器与探测器 2024-12-18 v2 高能物理 - 实验

摘要

3D 技术的像素传感器装配在 ATLAS 可插入层 (IBL) 的树脂板端部,IBL 是 ATLAS 像素探测器中最内层的一层,该层于 2015 年在 LHC Run 2 开始前安装。预计 3D 像素传感器对辐射损伤更具抗性,因而是 ATLAS 跟踪器升级中用于 HL-LHC 计划的最内层技术首选。尽管 LHC 自 Run 2 开始以来已提供约为 235 fb1^{-1} 的累计积分,但 3D 传感器接收的非离子化能量沉积对应于平均约为 8.5×10148.5\times10^{14} 1 MeV 中子等效 cm2^{-2} 的 fluence。本文 presenting 测量结果,涵盖 Run 2 期间以及 Run 3 前两年的 3D 像素传感器响应,并预测其至 2025 年 Run 3 结束时的演化。数据与基于 1D Si 基片中电场细致图的辐射损伤模拟进行比较,模拟在各种 fluence 水平和偏置电压值下进行。这些结果阐明了 3D 技术在高辐射环境中用于像素应用的潜力。

关键词

引用

@article{arxiv.2407.05716,
  title  = {Sensor response and radiation damage effects for 3D pixels in the ATLAS IBL Detector},
  author = {ATLAS Collaboration},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2407.05716},
  year   = {2024}
}

备注

42 pages in total, author list starting page 25, 15 figures, 1 table, published by JINST