用于 SRF 腔体材料的二次离子质谱分析
加速器物理
2018-05-22 v2
摘要
历史上，用于先进粒子加速器的超导射频（SRF）腔体的许多进展都是经验性的，通过修改加工工艺然后进行性能测试的迭代过程来实现。然而，材料结构直接决定了性能。理解加工、结构与性能之间的联系将简化和加速研究过程。为了将加工、结构和性能联系起来，需要准确且稳健的材料表征方法。本文讨论了其中一种方法，即 SIMS，重点关注 SRF 材料的分析。此外，还展示了几个实例，说明如何利用 SIMS 增进对基于材料的 SRF 技术的理解。
引用
@article{arxiv.1803.07598,
title = {Secondary ion mass spectrometry for SRF cavity materials},
author = {J. Tuggle and U. Pudasaini and A. S. Palczewski and C. E. Reece and F. A. Stevie and M. J. Kelley},
journal= {arXiv preprint arXiv:1803.07598},
year = {2018}
}