SRF 腔品质因数的改进射频测量
加速器物理
2018-11-14 v2
摘要
仅当超导射频(SRF)腔非常接近临界耦合时，才能使用基于射频功率的技术精确测量其品质因数。这一限制来自由非理想射频元件引起的系统误差。当腔不接近临界耦合时，这些系统效应限制了测量的精度。腔射频信号的复基带包络与电路中滑动短路器的结合，使得射频信号的相对校准可从数据中提取，并对系统效应进行表征和抑制。改进后的校准允许在更宽的耦合范围内进行精确测量。将介绍在耦合因子接近 7 的单 spoke 谐振器测试中应用这些技术的演示，以及应用这些技术的建议。
引用
@article{arxiv.1804.04747,
title = {Improved RF Measurements of SRF Cavity Quality Factors},
author = {J. P. Holzbauer and C. Contreras and Y. Pischalnikov and D. Sergatskov and W. Schappert},
journal= {arXiv preprint arXiv:1804.04747},
year = {2018}
}