形变介电腔的品质因子
光学
2015-06-04 v1 量子物理
摘要
本文分析了圆形或球形介电腔发生形变时回音廊模式品质因子的退化现象。此类谐振器的高品质因子对于其在传感器、波长滤波器或激光器等应用中的使用至关重要。然而,由于标准程函近似所需的底层复射线数据通常不存在,无法直接对形状形变对品质因子的影响进行简单分析。在本文中,我们利用了一种在其他领域已成功用于描述此类系统强定向发射的方法,该方法基于对相关复射线族的微扰处理。当径向微扰在形式上达到波长量级时该方法是适用的,所得的近似利用引导最大发射强度方向的离散逃逸射线集合附近的射线几何,成功描述了品质因子的变化。
引用
@article{arxiv.1203.5260,
title = {Quality factors of deformed dielectric cavities},
author = {Michael M. White and Stephen C. Creagh},
journal= {arXiv preprint arXiv:1203.5260},
year = {2015}
}
备注
16 pages, 4 figures