一种测量超导腔无载品质因数的新方法

我们描述了一种使用递归最小二乘算法测量无载品质因数$Q_0$、外部品质因数$Q_E$和腔体失谐$\Delta\omega$的方法。该方法结合大量连续测量，逐步改进拟合参数的估计，渐近收敛于“真实”值。利用数字低电平RF系统获取的大量数据，我们可以在几秒到几分钟的适中时间范围内达到该渐近状态。模拟表明，该方法既适用于临界耦合腔体，也适用于过耦合腔体。一种新的校准方法解决了该方法对系统参数的非常严格的容差要求。