用于过渡金属硫族化物时间分辨研究的二次谐波成像显微镜
材料科学
2020-09-28 v3
摘要
二维过渡金属硫族化物（TMDC）在光电子学和所谓的谷电子学中有应用前景。其操作和性能强烈依赖于各层的堆叠。这里，成像模式下的光学二次谐波生成（SHG）被证明是考虑材料结构对TMDC单层和异质结构进行系统时间分辨研究的通用工具。大样品区域可以在不需要任何映射或扫描的情况下探测。通过偏振依赖测量，可以评估单层晶体取向或异质结构堆叠角对于整个视场。泵浦-探测实验然后允许将观察到的二次谐波响应的瞬态变化与底层结构相关联。相应的时间分辨率实际上受所用激光的脉冲持续时间限制。作为例子，展示了在SiO/Si(001)基底上生长的MoS单层和多层薄片的偏振依赖和时间分辨测量。
引用
@article{arxiv.1608.03434,
title = {Second-harmonic imaging microscopy for time-resolved investigations of transition metal dichalcogenides},
author = {J. E. Zimmermann and B. Li and J. Hone and U. Höfer and G. Mette},
journal= {arXiv preprint arXiv:1608.03434},
year = {2020}
}