拓扑缺陷诱导的石墨烯中载流子的散射
强关联电子
2011-08-05 v2 介观与纳米尺度物理
材料科学
广义相对论与量子宇宙学
经典物理
摘要
我们研究了石墨烯准粒子被拓扑缺陷（以空穴、五边形和七边形为代表）的散射。对于空穴，我们发现低浓度下它们对电阻率的贡献可忽略不计。当引入五边形或七边形时，我们意识到费米子流会被缺陷散射。
引用
@article{arxiv.0908.2979,
title = {Scattering of charge carriers in graphene induced by topological defects},
author = {J. M. Fonseca and W. A. Moura-Melo and A. R. Pereira},
journal= {arXiv preprint arXiv:0908.2979},
year = {2011}
}