用于多层手性自旋织构的极化分析扫描电子显微镜
介观与纳米尺度物理
2017-09-27 v1 材料科学
摘要
我们证明了同时对面内磁化分量敏感的极化分析扫描电子显微镜 (SEMPA) 可用于对多层手性自旋织构中的面外磁化多畴态进行成像。通过在多层结构顶部沉积一层薄 Fe 层，我们通过映射其在 Fe 中的杂散场，对底层的面外畴态进行了成像。我们还证明了，在磨去覆盖层并直接对最顶层磁性层进行成像后，SEMPA 可用于对这些系统中的畴壁手性进行成像。
引用
@article{arxiv.1708.00387,
title = {Scanning electron microscopy with polarization analysis for multilayered chiral spin textures},
author = {Juriaan Lucassen and Fabian Kloodt-Twesten and Robert Frömter and Hans Peter Oepen and Rembert A. Duine and Henk J. M. Swagten and Bert Koopmans and Reinoud Lavrijsen},
journal= {arXiv preprint arXiv:1708.00387},
year = {2017}
}
备注
12 pages, 3 figures