微观与纳米结构空间分布随机性的度量：扫描电子显微镜图像处理与分析的影响
介观与纳米尺度物理
2022-04-12 v1
摘要
表面微观与纳米结构随机程度及聚集状态的定量表征，对于评估其对目标功能特性的影响至关重要。为此，在生态学与医学成像中广泛使用的点模式分析（PPA）方法似乎提供了一套有力的工具。然而，这些技术的应用需要从显微镜图像中提取纳米结构的点模式。本工作中，我们探讨了扫描电子显微镜（SEM）图像处理可能对 PPA 基本度量即最近邻指数（NNI）产生的影响。以取自二次电子与背散射电子的聚合物微纳结构的两幅典型 SEM 图像为例，我们报道了 a) 噪声滤波与 b) 二值化阈值对 NNI 值的影响，以及图像有限尺寸效应的影响。基于这些结果，我们就安全选择 SEM 参数以通过 NNI 估计准确测量纳米结构随机性得出结论。
引用
@article{arxiv.2204.04660,
title = {Measuring the randomness of micro and nanostructure spatial distributions: Effects of Scanning Electron Microscope image processing and analysis},
author = {A. Mavrogonatos and E-M. Papia and P. Dimitrakellis and V. Constantoudis},
journal= {arXiv preprint arXiv:2204.04660},
year = {2022}
}