手征微扰理论中的标量极化率与电磁热质量差

我们利用 SU(3)-手征微扰理论在单圈水平上对轻标量极化率进行了热力学分析，考虑了同位旋破缺（IB）的 QCD 来源，即来自 $m_u\neq m_d$ 的修正。我们发现，在红外区域（即接近手征对称性恢复时相关的区域）且低于临界温度时，连通标量极化率的值完全由 $\pi^0-\eta$ 混合主导，这在味破缺极化率的组合 $\chi_{uu}-\chi_{ud}$ 中导致了与模型无关的 $\mathcal{O}(\epsilon^0)$ 修正，其中 $\epsilon\sim m_d-m_u$。我们还在考虑电磁相互作用的情况下，给出了 SU(2)-手征微扰理论中次领头阶下介子自能实部修正的初步结果。带电介子和中性介子在零温和有限温度下的结果以外部介子的三动量给出；并在此阶计算了它们的差值，强调了在低温和中等温度下，对于至少圈内有非零带电介子质量运行的情况，质量劈裂 $M_{\pi^\pm}-M_{\pi^0}$ 随温度升高而增大。