揭示二维NbSe$_{2}$中由Peierls不稳定性引起的电荷密度波
材料科学
2022-11-15 v2
摘要
由Peierls不稳定性引起的二维(2D)材料电荷密度波(CDW)是一个有争议的话题。本研究探讨了在2H-NbSe材料中引起CDW态的费米面嵌套这一广受争议的作用。基于扫描隧道显微镜图像和第一性原理模拟的特征,识别出四种NbSe结构(即正常、条纹、填充和空心结构)。计算揭示填充相对应于Peierls的描述;即其在CDW布里渊区边界处呈现完全打开的能隙,导致态密度和扫描隧道谱在费米能级处下降。正常相中的电子磁化率和声子不稳定性表明,费米面嵌套由两个嵌套矢量触发,而仅一个嵌套矢量的参与导致条纹相。该综合研究表明,NbSe的填充相可归类为二维系统中Peierls不稳定性诱导的CDW。
引用
@article{arxiv.2211.01203,
title = {Revealing the Charge Density Wave caused by Peierls instability in two-dimensional NbSe$_{2}$},
author = {Yung-Ting Lee and Po-Tuan Chen and Zheng-Hong Li and Jyun-Yu Wu and Chia-Nung Kuo and Chin-Shan Lue and Chien-Te Wu and Chien-Cheng Kuo and Cheng-Tien Chiang and Chun-Liang Lin and Chi-Cheng Lee and Hung-Chung Hsueh and Ming-Chiang Chung},
journal= {arXiv preprint arXiv:2211.01203},
year = {2022}
}
备注
4 figures