从其受损复制品中检索对称态信息的极限
量子物理
2025-02-18 v1
摘要
使用量子测量从状态中提取信息是量子科学与技术领域的常规做法。最近的工作 [Phys. Rev. Lett. 133, 040202 (2024)] 表明，状态的对称结构可被利用以大幅降低从状态中提取信息所需的样本复杂度。然而，由于存在噪声，实际手头的状态常常被损坏，其对称结构在执行量子测量之前会被扭曲。本文运用量子光谱学的方法，识别能够从受损复制品中检索对称态信息的 optimal 测量方法。我们展示，该测量方法可通过求解半正定规划程序来求解于一般情况下，并可针对大类在对称性群下具有协变性的噪声模型进行显式求解。本研究的结果为提供一种充分利用受损状态中失真对称结构进行信息检索的方法，为最近的工作提供了有益的补充。
引用
@article{arxiv.2502.10627,
title = {Retrieving maximum information of symmetric states from their corrupted copies},
author = {Zhao-Yi Zhou and Da-Jian Zhang},
journal= {arXiv preprint arXiv:2502.10627},
year = {2025}
}
备注
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