Bi$_2$Sr$_2$CaCu$_2$O$_{8+\delta}$中的电阻噪声
超导电性
2011-02-04 v1 无序系统与神经网络
摘要
研究发现，BiSrCaCuO薄膜中的电阻噪声在欠掺杂区显著增加。虽然原始电阻噪声随温度降低而增加的趋势大致与该材料此前报道的赝能隙温度相符，但标准的噪声分析表明，额外的噪声贡献是由超导 - 绝缘体转变的邻近性所驱动的。
引用
@article{arxiv.0708.0117,
title = {Resistance noise in Bi_2Sr_2CaCu_2O$_{8+\delta}$},
author = {L. Fruchter and H. Raffy and Z. Z. Li},
journal= {arXiv preprint arXiv:0708.0117},
year = {2011}
}