用于追踪 780 nm 附近空气折射率变化的折射仪
光学
2007-05-23 v1
摘要
本文描述并提出了一种新系统，该系统由双通道法布里 - 珀罗标准具和发射波长约为 780 nm 的激光二极管组成，用于空气折射率测量。该折射仪的原理基于光学激光源之间的频率测量。它能够实现准瞬时测量，分辨率优于 [数值缺失]，不确定度在 [数值缺失] 范围内。文中展示了该系统稳定性的初步结果以及利用该装置测量空气折射率的数据。在 780 nm 处进行的空气折射率首次测量结果，在量级为 [数值缺失] 的实验不确定度范围内，与所谓的修正 Edlén 方程预测值一致。据我们所知，这一结果是首次将修正 Edlén 方程的有效性从 350-650 nm 的波长范围扩展到近红外区域，该方程最初是针对 350-650 nm 波长范围推导得出的。
引用
@article{arxiv.0705.1536,
title = {Refractometer for Tracking Changes in the Refractive Index of Air Near 780 nm},
author = {N. -E. Khélifa and H. Fang and J. Xu and P. Juncar and M. Himbert},
journal= {arXiv preprint arXiv:0705.1536},
year = {2007}
}