高压下EuO中的回返价态转变：超越键价模型
强关联电子
2015-06-04 v1 材料科学
摘要
利用同步辐射X射线光谱和衍射技术，研究了模型化合物EuO中Eu价态与晶格结构随压力的依赖关系。与预期相反，在约45 GPa时发生的7%体积塌缩伴随着回返价态转变，进入一个更低价态。这一结果不仅凸显了在混合价态系统中寻求价态信息时需要直接探测结构和电子态，还表明广泛使用的键价方法无法定量描述EuO在压力下复杂的电子价态行为。
引用
@article{arxiv.1204.3003,
title = {Reentrant valence transition in EuO at high pressures: beyond the bond-valence model},
author = {N. M. Souza-Neto and J. Zhao and E. E. Alp and G. Shen and S. V. Sinogeikin and G. Lapertot and D. Haskel},
journal= {arXiv preprint arXiv:1204.3003},
year = {2015}
}
备注
5 pages, 4 figures