使用脉冲表征减少碳纳米管迁移率测量的迟滞
介观与纳米尺度物理
2010-03-23 v2 材料科学
摘要
我们描述了一种脉冲测量技术，用于抑制碳纳米管（CNT）器件在空气、真空以及宽温度范围（80-453 K）内测量时的迟滞。改变栅极脉冲宽度和占空比可以探测与CNT附近电荷俘获相关的弛豫时间，发现其范围可达0.1-10秒。电压脉冲之间更长的关断时间使得能够进行一致、无迟滞的CNT迁移率测量。还描述了一个用于电荷俘获和弛豫的隧穿前沿模型，表明SiO2上CNT的陷阱深度可达4-8纳米。脉冲测量也将适用于其他纳米尺度器件，如石墨烯、纳米线和分子电子学，并可能能够探测多种材料系统界面中的陷阱弛豫时间。
引用
@article{arxiv.0909.4104,
title = {Reduction of Hysteresis for Carbon Nanotube Mobility Measurements Using Pulsed Characterization},
author = {David Estrada and Sumit Dutta and Albert Liao and Eric Pop},
journal= {arXiv preprint arXiv:0909.4104},
year = {2010}
}